Design, process integration and characterization for microelectronics - 6-7 March 2002, Santa Clara, USA

Författare
(Alexander Starikov, Kenneth W. Tobin, Jr., chairs/editors)
Genre
Konferenspublikation
Språk
Engelska
Förlag År Ort Om boken ISBN
Cop. 2002 USA 628 sidor. 0-8194-4439-1